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Nanohärtemessung mit dem Rasterkraftmikroskop,Dissertation - Kempf, Markus


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ISBN:9783899590074
Personen:
Zeitliche Einordnung:2002
Umfang:XII, 160 S
Format:; 21 cm
Sachgruppe(n):35 Technik allgemein ; 29 Physik, Astronomie
Verlag:
Osnabrück : Der Andere Verl.
Schlagwörter:Härteeindruck ; Rasterkraftmikroskop ; Nanostrukturiertes Material

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