Startseite

Nanohärtemessung mit dem Rasterkraftmikroskop,Dissertation - Kempf, Markus


Netto: 7.01 €7,5

inkl. MwSt. zzgl. Versand

Bearbeitungszeit: 3 Werktage

Sofort lieferbar (auf Lager)

1x Stück verfügbar

Artikelzustand Mangelware (nachgebunden):

  • Stark gebrauchter Zustand / Mangelware
  • Buchrücken fehlt und wurde maschinell nachgebunden
  • Seiten können fehlen, weil die Prüfung aller Seiten zu zeitaufwendig ist
  • Coverseiten können vom Text abgeschnitten sein
  • Vereinzelte Seiten können lose sein
  • Blattübergänge können Unterschiede aufweisen
  • Es handelt sich um Jahrzehnte alte Bücher, die nicht für Allergiker oder anspruchsvolle Kunden geeignet sind
ISBN:9783899590074
Personen:
Zeitliche Einordnung:2002
Umfang:XII, 160 S
Format:; 21 cm
Sachgruppe(n):35 Technik allgemein ; 29 Physik, Astronomie
Verlag:
Osnabrück : Der Andere Verl.
Schlagwörter:Härteeindruck ; Rasterkraftmikroskop ; Nanostrukturiertes Material

5334
    Einkaufswagen

    Noch kein Buch gefunden