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Oxygen-related trapping and recombination centres in boron-doped crystalline silicon - Karsten Bothe


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ISBN:9783899594744
Personen:
Zeitliche Einordnung:2006
Umfang:161 S
Format:; 21 cm
Sachgruppe(n):530 Physik
Verlag:
Osnabrück : Der Andere Verl.
Schlagwörter:Silicium ; Bor ; Dotierung

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