Advanced CMOS-Based Stress Sensing - Julian Bartholomeyczik
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Buchzusammenfassung:
Das Buch "Advanced CMOS-based stress sensing" von Julian Bartholomeyczik behandelt verschiedene Aspekte der Stressmessung mit integrierten piezoresistiven Elementen. Es beginnt mit einer Einführung in die Grundlagen der Piezoresistoren und Wheatstone-Brücken. Es werden auch transversale Spannungseffekte, der Picture Frame Sensor, bipolare Transistoren und FETs als Stresssensoren betrachtet. Das Buch gibt einen Überblick über piezoresistive Stressmessgeräte und beschreibt den Umfang der Arbeit. Es werden auch verschiedene Anwendungen von Stressmessgeräten diskutiert, wie zum Beispiel multidimensionale Stressmessungen in Kieferorthopädie-Brackets. Das Buch behandelt auch physikalische Effekte in Multi-Kontakt-CMOS-Sensoren, wie den Piezoresistiveffekt, den Hall-Effekt, thermische Effekte und den Junction Field Effect. Es werden auch höhere Ordnungseffekte diskutiert und eine Zusammenfassung der Effekte gegeben. Es werden verschiedene experimentelle Aufbauten für die Anwendung von Stress beschrieben, wie zum Beispiel eine Vier-Punkt-Biegebrücke und eine Sechs-Freiheitsgrade-Aufstellung. Das Buch behandelt auch fortgeschrittene Methoden für den Betrieb von Sensoren, wie zum Beispiel den Switched Spinning Current Stress Sensing und den Continuous Spinning Current Stress Sensing. Es werden auch Stressmessmethoden und -designs für Mixed-Signal-Systeme diskutiert, einschließlich Anforderungen und Einschränkungen der Integration von Mixed-Signal-Systemen. Es werden Methoden wie das digitale Stress Chopping und das Cartesian Lattice Spinning Current Method vorgestellt. Es wird auch auf das Design integrierter Sensoren eingegangen. Das Buch schließt mit einem Proof of Principle für eine Smart Bracket und gibt einen Ausblick auf Konzepte für drahtlose Stresssensor-Systeme, dreidimensionale Stressmessung und drahtlose Stressmessung in Verpackungen. Es enthält auch Referenzen, Danksagungen, einen Lebenslauf und eine Liste der Veröffentlichungen des Autors.
