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Untersuchungen zur Signalentstehung mittels Sekundärelektronen an Mikrostrukturkanten in einem Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskop / Carl Georg Frase. Physikalisch-Technische Bundesanstalt. [Hrsg.: Physikalisch-Technische Bundesanstalt Braunschweig und Berlin Presse und Öffentlichkeitsarbeit]


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ISBN:9783897019539
Personen:
Zeitliche Einordnung:2003
Umfang:141 S
Format:; 30 cm
Sachgruppe(n):530 Physik
Verlag:
Bremerhaven : Wirtschaftsverl. NW, Verl. für Neue Wiss.
Schlagwörter:Rasterelektronenmikroskop ; Messsignal ; Sekundärelektron

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